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主编张晓宇, 刘伟雄
索书号：TG8/172
标准编码： 978-7-5680-5329-7
出版信息：武汉 华中科技大学出版社 2020.05
主题词：
技术测量
公差
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王绍銧,夏群生,李建秋
索书号：U463.6/1
标准编码： 7302110441
出版信息：北京 清华大学出版社 2005
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钟锡华,周岳明
索书号：O43-44/1
标准编码： 7301071582
出版信息：北京 北京大学出版社 2004
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沈琪琪,朱德生
索书号：TN914-43/1
标准编码： 7560600921
出版信息：西安 西安电子科技大学出版社 1989.12
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袁辉,于静兰
索书号：TN-49/30/3
标准编码： 7543306697
出版信息：天津 天津科技翻译出版公司 1990
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张广明,李果,朱炜
索书号：TH-39/5
标准编码： 9787118049695
出版信息：北京 国防工业出版社 2007
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王楠,李岭松,计算机职业教育联盟
索书号：TP393.092/355
标准编码： 7302129401
出版信息：北京 清华大学出版社 2006
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MOHER,郑宝玉,西蒙·赫金
索书号：TN92/16
标准编码： 7121025086
出版信息：北京 电子工业出版社 2006
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朱莉·恩菲尔德,杨一平
索书号：C912.1/246
标准编码： 7507416224
出版信息：北京 中国城市出版社 2004
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