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SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
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电物分馆(1)
书目库
中文图书(1)
主题
功率半导体器件(1)
出版社
机械工业出版社(1)
出版时间
2021.02(1)
SIC/GAN功率半导体封装和可靠性评估技术
—
(日)菅沼克昭编著
索书号：
TN30/114
标准编码：
978-7-111-66953-1
出版信息：
北京 机械工业出版社 2021.02
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