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短沟道MOSFET的高频噪声机理分析与表征
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微电子技术(1)
出版社
科学出版社(1)
出版时间
2020.10(1)
短沟道MOSFET的高频噪声机理分析与表征
—
王军著
索书号:
TN4/312
标准编码:
978-7-03-066300-9
出版信息:
北京 科学出版社 2020.10
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