— 李晓维[等]著
索书号:TN431.2/24
标准编码: 978-7-03-027894-4
出版信息:北京 科学出版社 2010
主题词: 数字集成电路 数字集成电路 测试技术
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— 李华伟[等]编著
索书号:TN431/12
标准编码: 978-7-302-66203-7
出版信息:北京 清华大学出版社 2024.06
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