书目详细信息
： 纳米级系统芯片单粒子效应研究
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-067328-2:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米级系统芯片单粒子效应研究/.贺朝会[等]著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2021.05 |
| 载体形态项： | 191页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应，主要包括国内外研究现状，SoC单粒子效应测试系统的建立，α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 |
| 题名主题： | 集成芯片 单粒子态 研究 |
| 中图分类： | TN43 |
| 个人名称等同： | 贺朝会 著 |
| 记录来源： | CN CDT 20210621 |