书目详细信息
： 集成电路系统设计、验证与测试
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-021490-4:CNY62.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路系统设计、验证与测试/.(美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著/.陈力颖, 王猛译 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2008.06 |
| 载体形态项： | xiv, 475页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 集成电路EDA技术实用技术 |
| 提要文摘： | 本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路设计 |
| 中图分类： | TN402 |
| 个人名称等同： | 谢弗 著 |
| 个人名称等同： | 拉瓦尼奥 著 |
| 个人名称等同： | 马丁 著 |
| 个人名称次要： | 陈力颖 译 |
| 个人名称次要： | 王猛 译 |
| 记录来源： | CN RULIN 20090305 |