书目详细信息
： 公差配合与技术测量
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-23325-1:CNY21.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 公差配合与技术测量/.朱超主编 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2008 |
| 载体形态项： | 199页:;+26cm |
| 一般附注： | 高职高专“十一五”机电一体化专业规划教材 |
| 提要文摘： | 本书主要内容包括：技术测量基础、光滑圆柱的极限与配合、形状和位置公差及其误差的检测、表面粗糙度及其检测、圆锥结合的互换性及其检测等。 |
| 题名主题： | 公差 配合 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 技术测量 高等教育 教材 |
| 中图分类： | TG8 |
| 个人名称等同： | 朱超 主编 |
| 记录来源： | CN CEPC 20100908 |