ISBN/价格: | 978-7-111-63407-2:CNY59.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测/.肖飞[等]编著 |
出版发行项: | 北京:,机械工业出版社:,2019.11 |
载体形态项: | 232页:;+图:;+24cm |
提要文摘: | 本书通过分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理,在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上,通过将理论分析与解析描述相结合,建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法,对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。 |
题名主题: | 绝缘栅场效应晶体管 疲劳机理 监测 |
中图分类: | TN386 |
个人名称等同: | 肖飞 编著 |
记录来源: | CN CDT 20191224 |