书目详细信息
： 光电材料与器件测试评估技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5645-1488-4:CNY19.50 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 410000 |
| 题名责任者项： | 光电材料与器件测试评估技术/.乔建良著 |
| 出版发行项： | 郑州:,郑州大学出版社:,2014.09 |
| 载体形态项： | 192页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书以光电阴极与光敏电阻为例，详细介绍了智能测试技术在光电器件的研制和生产中的应用。书中从GaN光电阴极光电发射机理，GaN光电阴极制备技术，GaN光电阴极光谱响应测试，GaN光电阴极稳定性测试评估，光敏电阻检测装置硬件设计，光敏电阻检测装置软件设计等方面进行了详细的介绍。最后总结并展望了以光电阴极与光敏电阻为代表的光电器件的现代化测试评估技术。 |
| 题名主题： | 自动测试系统 应用 光电材料 |
| 题名主题： | 自动测试系统 应用 光电器件 |
| 题名主题： | 自动测试系统 |
| 题名主题： | 光电材料 |
| 题名主题： | 光电器件 |
| 中图分类： | TN206 |
| 个人名称等同： | 乔建良 著 |
| 记录来源： | CN CEOC 20141118 |