书目详细信息
： 电子元器件失效率试验方法
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | CNY0.07 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件失效率试验方法/.技术标准出版社出版著 |
| 出版发行项： | 北京:,技术标准出版社出版:,1980 |
| 载体形态项： | 11页:;+20cm |
| 题名主题： | 光电子技术 |
| 中图分类： | TN2 |
| 团体名称等同： | 技术标准出版社出版 著 |
| 记录来源： | CN CDT 20080101 |
| ISBN/价格： | CNY0.07 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件失效率试验方法/.技术标准出版社出版著 |
| 出版发行项： | 北京:,技术标准出版社出版:,1980 |
| 载体形态项： | 11页:;+20cm |
| 题名主题： | 光电子技术 |
| 中图分类： | TN2 |
| 团体名称等同： | 技术标准出版社出版 著 |
| 记录来源： | CN CDT 20080101 |