书目详细信息
： 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5124-1894-3:CNY39.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析/.武晔卿，王广辉，彭耀光编著 |
| 版本项： | 2版 |
| 出版发行项： | 北京:,北京航空航天大学出版社:,2015.11 |
| 载体形态项： | 243页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 博客藏经阁丛书 |
| 提要文摘： | 本书介绍了嵌入式系统设计中，哪些地方最可能带来可靠性隐患，以及从设计上如何进行预防。内容包括：启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法；降额参数和降额因子的选择方法；风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范；PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施；电子产品制造过程中的失效因素(包括EOS、ESD、MSD等)及预防、检验方法；可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。 |
| 题名主题： | 微处理器 系统设计 |
| 中图分类： | TP332 |
| 个人名称等同： | 武晔卿 编著 |
| 个人名称等同： | 王广辉 编著 |
| 个人名称等同： | 彭耀光 编著 |
| 记录来源： | CN CEOC 20151224 |