书目详细信息
： 边界扫描测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-09121-2:CNY89.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 边界扫描测试技术/.谭剑波[等]编著 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2013.12 |
| 载体形态项： | 12,270页:;+图:;+26cm |
| 相关题名附注： | 封面英文题名：Boundary scan test technology |
| 提要文摘： | 本书主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面，对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准IEEE 1149.1、混合电路测试标准IEEE 1149.4、系统级测试标准IEEE 1149.5、高速数字网络边界扫描测试标准IEEE 1149.6，边界扫描技术在芯片设计中的应用等内容。 |
| 并列题名： | Boundary scan test technology eng |
| 题名主题： | 边界扫描技术 |
| 中图分类： | TM93 |
| 个人名称等同： | 谭剑波 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20140226 |