书目详细信息
： Lattice可编程器件测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5612-4253-7:CNY30.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 610000 |
| 题名责任者项： | Lattice可编程器件测试技术/.吴丹，石坚，周红著 |
| 出版发行项： | 西安:,西北工业大学出版社:,2015.01 |
| 载体形态项： | 49页:;+图:;+23cm |
| 提要文摘： | 本书从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法等。 |
| 题名主题： | 可编程序逻辑阵列 测试技术 |
| 中图分类： | TP303 |
| 个人名称等同： | 吴丹 著 |
| 个人名称等同： | 石坚 著 |
| 个人名称等同： | 周红 著 |
| 记录来源： | CN CEOC 20150309 |