书目详细信息
： 半导体材料与器件表征
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5693-0218-9:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 610000 |
| 题名责任者项： | 半导体材料与器件表征/.(美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K. Schroder)著/.徐友龙[等]译 |
| 出版发行项： | 西安:,西安交通大学出版社:,2017.12 |
| 载体形态项： | 10,714页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 国外名校最新教材精选 |
| 提要文摘： | 本书分十二章，内容包括：电阻率；载流子与掺杂浓度；接触电阻和肖特基势垒；串联电阻，沟道长度与宽度，阈值电压；缺陷；栅氧电荷、界面陷阱电荷和栅氧厚度；载流子寿命；迁移率；基于电荷和探针的表征技术等。 |
| 并列题名： | Semiconductor material and device characterization eng |
| 题名主题： | 半导体材料 研究 |
| 题名主题： | 半导体器件 研究 |
| 中图分类： | TN30 |
| 中图分类： | TN303 |
| 个人名称等同： | 施罗德 (美) (Schroder, Dieter K.) 著 |
| 个人名称次要： | 徐友龙 译 |
| 记录来源： | CN CDT 20180321 |