书目详细信息
： 集成电路测试指南
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-68392-6:CNY99.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试指南/.邬刚，王瑞金，包军林编著 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2021.07 |
| 载体形态项： | 13,257页:;+图:;+24cm |
| 一般附注： | 华章IT |
| 提要文摘： | 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路测试 指南 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 邬刚 编著 |
| 个人名称等同： | 王瑞金 编著 |
| 个人名称等同： | 包军林 编著 |
| 记录来源： | CN CDT 20210723 |