书目详细信息
： 光学测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-20194-3:CNY49.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光学测试技术/.刘承，张登伟，张彩妮等编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2013 |
| 载体形态项： | 311页:;+26cm |
| 一般附注： | 光电信息科学与工程类专业规划教材 |
| 提要文摘： | 本书从基本原理出发，着重阐述各种物理量的光学测试技术、方法和手段。包括6章内容，分别为光干涉技术、光衍射技术、光调制解调及扫描技术、光纤传感技术和光纳米传感与测量技术等。 |
| 题名主题： | 光学仪器 测试技术 高等学校 教材 |
| 题名主题： | 光学仪器 |
| 题名主题： | 测试技术 |
| 中图分类： | TH74 |
| 个人名称等同： | 刘承 (光学) 编著 |
| 个人名称等同： | 张登伟 编著 |
| 个人名称等同： | 张彩妮 (女， 编著 |
| 记录来源： | CN TSG 20140112 |